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Diagramma di prova di risoluzione del microscopio ottico per la calibrazione scientifica e industriale
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Diagramma di prova di risoluzione del microscopio ottico per la calibrazione scientifica e industriale

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Product Overview

Colore: Nero
Marchio: Generic
Numero di articoli: 1
Produttore: Generic

- Utilizza la tecnologia di fotolitografia a scrittura diretta ad alta precisione per l'elaborazione del modello su scala nanometrica, soddisfacendo efficacemente i requisiti per la produzione ad alta densità e ad alta risoluzione di micro e nanostrutture.
- Offre un livello di alta precisione di ±5µm con un rigoroso controllo del processo per garantire che ogni piastra di calibrazione soddisfi le specifiche, rendendolo uno strumento affidabile per la ricerca scientifica e i test industriali.
- Dispone di una superficie con effetto di riflessione diffusa, realizzata in materiale antiriflesso e ad alto contrasto per fornire una distribuzione uniforme della luce senza riflessi localizzati.
- Costruito con un substrato in alluminio di alta qualità per una maggiore durata e stabilità dimensionale a lungo termine, adatto per l'uso in ambienti industriali difficili.
- Ampiamente usato per test di risoluzione, calibrazione e controllo di qualità di dispositivi ottici come obiettivi di fotocamere, microscopi e telescopi, nonché per la valutazione delle prestazioni di supporti di imaging come sensori di immagine, film e fotografie.

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